!_Расширенный поиск_!    <НА ГЛАВНУЮ>

Скачать "П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан - Электронная микроскопия тонких кристаллов" бесплатно

Панель управления
Логин 
Пароль 
 


Основные категории

-- Книги
-- Аудиокниги
-- Журналы
-- Фильмы


Информация
Все вопросы и пожелания пишите на [email protected]
Правообладателям
Расширенный поиск
по сайту
Электронная микроскопия тонких кристаллов : КНИГИ » Электроника, радиотехника
автор: MIHAIL62 | 4 июня 2019 | Просмотров: 267
 
Электронная микроскопия тонких кристаллов     Название:   
    Автор:   
    Формат:   DJVU
    Размер:   37 Мб
    Год:   
    Качество:   Нормальное
    Язык:   Русский
    Страниц:   573

 
 

В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах и вузах, но и в промышленных лабораториях.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Авторы книги — крупные английские ученые, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии кристаллов.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях, а также для преподавателей и студентов — материаловедов и кристалло-физиков — в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.









Сосчитайте:   91 + один – 3 =      и нажмите   






Разместите ссылку на эту страницу в социальных сетях. Так о ней узнают тысячи человек:





Нашли ошибку? Сообщите администрации сайта:
Выберите один из разделов меню и, если необходимо, напишите комментарий
   91 + один – 2 =    
За ложную информацию бан на месяц


Разместите, пожалуйста, ссылку на эту страницу на своём веб-сайте:

Код для вставки на сайт или в блог:      
Код для вставки в форум (BBCode):      
Прямая ссылка на эту публикацию:      


Помощь по работе с нашей библиотекой :

Программа для открытия файлов формата .PDF
Программа для открытия файлов формата .DJVU
Программа для открытия файлов формата .FB2

 
 
  • 0
 (голосов: 0)
Распечатать
 
 


Другие книги (журналы) по этой теме:
 
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения | Криштал М.М.(ред.) | Математика, физика, химия | Скачать бесплатно Криштал М.М.(ред.) - Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения

Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
 
 
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение | У. Жу, Ж.Л. Уанг(ред.) | Электроника, радиотехника | Скачать бесплатно У. Жу, Ж.Л. Уанг(ред.) - Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областя ...
 
 
Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники | Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. | Электроника, радиотехника | Скачать бесплатно Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. - Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники

Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.
 
 
Физика поверхности твердых тел | Владимиров Г.Г. | Математика, физика, химия | Скачать бесплатно Владимиров Г.Г. - Физика поверхности твердых тел

В пособии рассматриваются особенности физико-химических свойств, возникающих вследствие образования поверхности. Приводятся данные по термодинамике поверхности и равновесной структуре кристаллов. Подробно рассматриваются изменения атомной структуры на поверхности — релаксация, реконструкция, фасетирование, а также механизмы, отвечающие за структурн ...
 
 
Теория симметрии кристаллов | Найш В.Е. | Математика, физика, химия | Скачать бесплатно Найш В.Е. - Теория симметрии кристаллов

Методы теории симметрии успешно используются в самых различных областях физики твердого тела: структуры кристаллов, дифракция рентгеновских лучей и нейтронов на кристаллах, поведение атомных уровней в кристаллическом поле, оптические спектры и спектры ЭПР, структурные, магнитные и сегнетоэлектрические фазовые переходы, теория магнитных структур и т ...
 
 



Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц.
Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта.
Материал будет немедленно удален.
Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях.
Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет
приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.

Администрация сайта

Наверх