В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах и вузах, но и в промышленных лабораториях. Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов. Авторы книги — крупные английские ученые, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии кристаллов. Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях, а также для преподавателей и студентов — материаловедов и кристалло-физиков — в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.
Разместите ссылку на эту страницу в социальных сетях. Так о ней узнают тысячи человек:
Facebook
Twitter
Мой мир
Вконтакте
Одноклассники
Нашли ошибку? Сообщите администрации сайта: Выберите один из разделов меню и, если необходимо, напишите комментарий
За ложную информацию бан на месяц
Разместите, пожалуйста, ссылку на эту страницу на своём веб-сайте:
Код для вставки на сайт или в блог: Код для вставки в форум (BBCode): Прямая ссылка на эту публикацию:
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областя ...
Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.
В пособии рассматриваются особенности физико-химических свойств, возникающих вследствие образования поверхности. Приводятся данные по термодинамике поверхности и равновесной структуре кристаллов. Подробно рассматриваются изменения атомной структуры на поверхности — релаксация, реконструкция, фасетирование, а также механизмы, отвечающие за структурн ...
Методы теории симметрии успешно используются в самых различных областях физики твердого тела: структуры кристаллов, дифракция рентгеновских лучей и нейтронов на кристаллах, поведение атомных уровней в кристаллическом поле, оптические спектры и спектры ЭПР, структурные, магнитные и сегнетоэлектрические фазовые переходы, теория магнитных структур и т ...
Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц. Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта. Материал будет немедленно удален. Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях. Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.