The 2014 International Conference on Mechatronics Engineering and Electrical Engineering (CMEEE2014) was held October 18-19, 2014 in Sanya, Hainan, China. CMEEE2014 provided a valuable opportunity for researchers, scholars and scientists to exchange their new ideas and application experiences face to face together, to establish business or research relations and to find global partners for future collaboration.

Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.

Транзисторные усилители и генераторы с линейными и нелинейными обратными связями — В брошюре собраны оригинальные схемы усилителей и генераторов с линейными и нелинейными обратными связями. Приводятся необходимые расчетные соотношения. Основное внимание уделяется принципу работы схем, их свойствам, характеристикам и параметрам.

Книга представляет собой изложение физических основ радиолокации и предназначена для инженеров и техников, а также для лиц, изучающих курс физических основ радиолокации в учебных заведениях и самостоятельно.

В монографии рассмотрены теоретические проблемы синтеза и практического построения активных RC-фильтров и избирательных усилителей (ИУ) ВЧ- и СВЧ-диапазонов, реализуемых на основе усилителей тока по SiGe технологиям. Выполнен сравнительный анализ базовых архитектур ИУ и их основных функциональных узлов. Обсуждаются результаты математического анализа и компьютерного моделирования наиболее важных параметров ИУ (добротности, частоты квазирезонанса, коэффициента усиления, чувствительности) для более 40 разработанных схем.

В свете современного развития нанотехнологии и микромеханики рассмотрены процессы и системы вакуумно-плазменного травления, находящие широкое применение в производстве современных ультрабольших интегральных схем, изделий микроэлектромеханических систем и наносистем.

Electronic Circuits covers all important aspects and applications of modern analog and digital circuit design. The basics, such as analog and digital circuits, on operational amplifiers, combinatorial and sequential logic and memories, are treated in Part I, while Part II deals with applications.

What does the title mean? It is the idea that we can approach any electrical or electronic (and mechanical) fault using a basic logical or probability-based investigation to observe and correctly identify the significant indicators that will eventually lead us to the failure or failures.