!_Расширенный поиск_!    <НА ГЛАВНУЮ>

Скачать "Криштал М.М.(ред.) - Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения" бесплатно

Панель управления
Логин 
Пароль 
 


Основные категории

-- Книги
-- Аудиокниги
-- Журналы
-- Фильмы


Информация
Все вопросы и пожелания пишите на [email protected]
Правообладателям
Расширенный поиск
по сайту
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Математика, физика, химия, Электроника, радиотехника
автор: MIHAIL62 | 7 июня 2019 | Просмотров: 245
 
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения     Название:   
    Автор:   
    Формат:   PDF
    Размер:   126 Мб
    Год:   
    Качество:   Нормальное
    Язык:   Русский
    Серия:   Мир физики и техники
    Страниц:   208
    ISBN:   978-5-94836-200-7

 
 

Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований.
Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.
В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.









Сосчитайте:   81 + один – 3 =      и нажмите   






Разместите ссылку на эту страницу в социальных сетях. Так о ней узнают тысячи человек:





Нашли ошибку? Сообщите администрации сайта:
Выберите один из разделов меню и, если необходимо, напишите комментарий
   81 + один – 2 =    
За ложную информацию бан на месяц


Разместите, пожалуйста, ссылку на эту страницу на своём веб-сайте:

Код для вставки на сайт или в блог:      
Код для вставки в форум (BBCode):      
Прямая ссылка на эту публикацию:      


Помощь по работе с нашей библиотекой :

Программа для открытия файлов формата .PDF
Программа для открытия файлов формата .DJVU
Программа для открытия файлов формата .FB2

 
 
  • 0
 (голосов: 0)
Распечатать
 
 


Другие книги (журналы) по этой теме:
 
Электронная микроскопия тонких кристаллов | П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан | Электроника, радиотехника | Скачать бесплатно П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан - Электронная микроскопия тонких кристаллов

В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах и вузах, но и в промышленных лабораториях.
 
 
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение | У. Жу, Ж.Л. Уанг(ред.) | Электроника, радиотехника | Скачать бесплатно У. Жу, Ж.Л. Уанг(ред.) - Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областя ...
 
 
Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники | Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. | Электроника, радиотехника | Скачать бесплатно Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. - Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники

Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.
 
 
Микроскопические методы исследования материалов | Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. | Материалы, конструкции | Скачать бесплатно Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. - Микроскопические методы исследования материалов

За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для ис ...
 
 
Руководство к познанию в электронном мире: доступ к цифровой информации | Вершинин А.П. | Образование | Скачать бесплатно Вершинин А.П. - Руководство к познанию в электронном мире: доступ к цифровой информации

В книге рассматриваются вопросы правового регулирования деятельности с информацией и знаниями в электронном пространстве: законодательство и понятие об информации в электронной форме, правовые основы доступа к информации в электронной форме, правовые основы доступа к информации в электронной форме, правовые особенности автоматизированного и дистанц ...
 
 



Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц.
Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта.
Материал будет немедленно удален.
Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях.
Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет
приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.

Администрация сайта

Наверх