Основы стандартизации, метрологии и сертификации — Рассмотрены современные основы технического регулирования, терминология, методология, методические положения, нормативно-правовое и организационное обеспечение стандартизации, метрологии и сертификации, а также особенности отечественной и зарубежной стандартизации, метрологии и сертификации. Для студентов высших учебных заведений и слушателей системы повышения квалификации, преподавателей, специалистов в области стандартизации, метрологии и управления качеством, руководителей и специалистов организаций и предприятий.
Изложены правовые и технические основы метрологии, стандартизации, технического регулирования, подтверждения соответствия и сертификации на транспорте. Рассмотрены связи и характеристики основных элементов измерения, виды метрологического контроля и надзора. Уделено внимание вопросам подтверждения соответствия продукции в обязательном и добровольно ...
В учебнике описываются общие и частные вопросы технологических измерении, средства и системы измерений физических величин, характерных для целлюлозно-бумажного производства. Излагаются теоретические основы метрологии и информационно-измерительной техники: основные понятия, классификации измерений, погрешностей и средств измерений, систематизация из ...
Квалиметрия и системный анализ — Рассматривается использование методов квалиметрии и системного анализа для оценки отдельных показателей и обобщенного качества продукции на всех этапах ее жизненного цикла.
Рассмотрены цели, задачи, принципы и основные метрологии, а также методы и средства измерений электрических величин. Материал представлен с учетом современных достижений и тенденций развития теории измерений и измерительной техники. Изложение базируется на действующей нормативно-технической государственной документации и рекомендациях международных ...
Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники.
Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц. Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта. Материал будет немедленно удален. Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях. Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.
Название: 
Распечатать
