Книга Клааса Б. Клаассена закрывает существенный пробел в отечественной учебной литературе, являясь введением в технику электронных измерений. Написанная на основе лекций, прочитанных автором в Дельфтском университете, книга сохраняет живость изложения; автор непринужденно переходит от фундаментальных аспектов к практическим и даже бытовым примерам. В отличие от стилистики отечественной учебной литературы, где основное внимание уделяется изложению предмета, акцент сделан на объяснение. Не все фигурирующие в тексте формулы строго выводятся, зато они сопровождаются комментариями относительно способа и области применения. Условно книга К.Б. Клаассена может быть разбита на две части. В первой из них, имеющей более абстрактный характер, обсуждаются основы теории измерений, погрешности, системы единиц, физические эталоны и принципы измерений. Вторая часть книги имеет практическую направленность, включая в себя описание различных преобразователей и конкретных измерительных систем, вопросы оцифровки, борьбы с паразитными сигналами и шумами. Книга адресована студентам-физикам и химикам младших курсов университетов, студентам технических университетов, а также инженерам и научным сотрудникам, желающим пополнить или освежить свои знания в области теории, методологии и техники измерений.
В учебнике излагаются основы теории измерений, методы измерений, метрологические показатели измерений и средств измерений, терминология и классификация методов и средств измерений.
В учебнике описываются общие и частные вопросы технологических измерении, средства и системы измерений физических величин, характерных для целлюлозно-бумажного производства. Излагаются теоретические основы метрологии и информационно-измерительной техники: основные понятия, классификации измерений, погрешностей и средств измерений, систематизация из ...
Приведены основные понятия о физических величинах, их единицах, эталонах, системах единиц. Представлены методы электро-технических измерений и классификация средств измерений. Рассмотрены метрологические показатели и погрешности измерений и измерительных приборов.
Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о конт ...
Приведены основные понятия метрологии, рассмотрены методы и средства измерительной техники, а также особенности измерений различных электрических и неэлектрических величин. Рассмотрены устройства, метрологические характеристики, параметрические и генераторные преобразователи.
Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц. Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта. Материал будет немедленно удален. Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях. Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.
Название: 
Распечатать
