В учебном пособии излагается теория ошибок и ее приложения к измерению физических величин. Характер изложения рассчитан на первоначальное изучение основных методов количественной оценки погрешностей. Однако книга также может служить пособием для практической работы при производстве различного рода измерений благодаря наличию необходимых для этого таблиц, применение которых проиллюстрировано примерами. Основное внимание уделено не математическим методам обработки, а физическим закономерностям, обуславливающим появление различных погрешностей результата измерений. Книга адресована студентам университетов и высших технических учебных заведений.
Разместите ссылку на эту страницу в социальных сетях. Так о ней узнают тысячи человек:
Facebook
Twitter
Мой мир
Вконтакте
Одноклассники
Нашли ошибку? Сообщите администрации сайта: Выберите один из разделов меню и, если необходимо, напишите комментарий
За ложную информацию бан на месяц
Разместите, пожалуйста, ссылку на эту страницу на своём веб-сайте:
Код для вставки на сайт или в блог: Код для вставки в форум (BBCode): Прямая ссылка на эту публикацию:
Изложены основные положения теоретической метрологии. Рассмотрены методы выявления, оценки и аппроксимации погрешностей результатов измерений. Рассмотрены методы обработки динамических измерений, спектрального анализа и случайных процессов. Основное внимание уделено вопросам математического обеспечения методов обработки результатов многократных изм ...
Книга знакомит читателя с особенностями измерений в диапазоне метровых, дециметровых и сантиметровых волн. Рассматриваются методы измерения основных электрических величин на сверхвысоких частотах. Изложение проводится на примерах с кратким описанием приборов, их технических данных и требований, предъявляемых к приборам.
В учебнике описываются общие и частные вопросы технологических измерении, средства и системы измерений физических величин, характерных для целлюлозно-бумажного производства. Излагаются теоретические основы метрологии и информационно-измерительной техники: основные понятия, классификации измерений, погрешностей и средств измерений, систематизация из ...
Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о конт ...
В учебном пособии рассмотрены общие аспекты измерения, основные понятия о метрологическом обеспечении измерений, а также в области наноизмерений. Представлена информация о принципах измерения различных физических величин на примерах измерения параметров автомобильных систем. Отдельная глава содержит практические работы по составлению измерительных ...
Данный материал НЕ НАРУШАЕТ авторские права никаких физических или юридических лиц. Если это не так - свяжитесь с администрацией сайта. Материал будет немедленно удален. Электронная версия этой публикации предоставляется только в ознакомительных целях. Для дальнейшего её использования Вам необходимо будет приобрести бумажный (электронный, аудио) вариант у правообладателей.